ICS 31.080.01 CCSL40 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T4937.23—2023/IEC60749-23:2011 半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命 Semiconductor devicesMechanical and climatic test methods- Part 23:High temperature operating life (IEC60749-23:2011,IDT) 2023-05-23发布 2023-12-01实施国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会

GB-T 4937.23-2023 半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命

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